1.1 表层解剖
1.1.1 脑皮质表面解剖
图1-1中显示了一些重要的皮质表面标志,可结合磁共振成像(MRI)进行病灶定位(图中缩写的对应的中文见表1-1和表1-2)。额中回通常较额上回或额下回更弯曲并通过一个峡部与中央前回相连[1]。只有2%的中央沟与外侧裂相通(98%的标本中有“中央下回”)。顶间沟(ips)将顶上小叶与顶下小叶分开。顶下小叶主要由角回和缘上回组成。外侧裂止于缘上回(Brodmann 40区),颞上沟止于角回。
图1-1 左侧大脑皮层解剖
表1-1 大脑沟裂(缩写)
缩 写沟 裂cins
cs
ips-ios
los
pM
pocn
pocs
pof
pos
prcs
sfs,ifs
sps
sts,its
tos扣带沟
中央沟
顶间沟,枕间沟
枕外侧沟
缘部
枕前切迹
中央后沟
顶枕裂
顶枕沟
中央前沟
额上沟,额下沟
顶上沟
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