X射线荧光光谱分析 X-ray fluorescence spectrography,XRF
样品在X射线激发下,物质中的原子内层电子被击出,能量较高的外层电子跃进内层填补空位,同时释放特征的X射线,不同元素发出的X射线波长各不相同,由此形成X射线荧光光谱(所发射的是非可见光,故不是严格意义上的荧光),原子序数越高,发出的X射线波长越短,离子浓度越大,谱线的强度越大。因此,根据X射线的波长,可以定性鉴别组成元素,由此设计的X射线荧光分析仪称为波散谱仪,简称波谱仪(wavelength-dispersive spectrometer,WDS);根据谱线的强度和能量,可以进行定量的分析,由此设计的分析仪称为能散谱仪,简称能谱仪(energy-dispersive spectrometer,EDS)。使用波散和能散系统的X射线荧光光谱 ...... (共589字) [阅读本文]>>